納米粒度zeta電位儀|儀器百科
發布時間:2023-04-12 點擊次數:463次
納米粒度zeta電位儀是一種新的zeta電位儀,用于表征納米顆粒懸浮液,主要分析液體介質中粒子或大分子的粒徑、Zeta電位和分子量三個參數。它基于重新審視的現代版激光多普勒電泳(LDE)技術,提供很好的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充,用于研究膠體溶液的穩定性和性質??梢杂糜跍y量固體、液體和氣體中的顆粒大小和分布,其中固體樣品需要先進行樣品制備。通過激光散射和光學檢測技術,可以確定顆粒的平均直徑、分布范圍和聚集情況等信息。同時,還可以分析顆粒形態、比表面積、表面修飾等特性。

一、工作原理
1、先進的測試原理:采用動態光散射原理,來測量顆粒粒徑大小的。采用動態光散射原理來研制的納米激光粒度儀,其動態光散射原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上,顆粒越小運動越快,反之,顆粒越大,運動越慢。具有不干擾,不破壞顆粒體系原有狀態的特點,從而保證了測試結果的真實性。
2、高分辨能力:使用PCS技術測定納米級顆粒大小,必須能夠分辨納秒級信號起伏。納米粒度zeta電位儀的核心部件采用微納公司研制的CR140數字相關器,具有識別8ns的很高分辨能力和很高的信號處理速度,因此可以得到準確的測定結果。
3、高靈敏度與信噪比:探測器采用專業級高性能光電倍增管(PMT),對光子信號具有很高的靈敏度和信噪比,從而保證了測試結果的準確度。
4、運算功能:采用自行研制的高速數字相關器CR140進行數據采集與實時相關運算,其數據處理速度高達125M,從而實時有效地反映顆粒的動態光散射信息。
5、 穩定的光路系統:采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術搭建而成的光路系統,使光子相關譜探測系統不僅體積小,而且具有很強的抗干擾能力,從而保證了測試的穩定性。
二、主要優勢
1、沒有電滲效應---消除了測量中的假峰;
2、改進型LDE技術(LDE)---高效,可靠和簡單;
3、增強的分辨率---比通常的相關器技術好10倍;
4、高分辨率測量---準確且可重復的zeta電位分析;
5、易于使用和直觀的圖形用戶界面軟件(GUI)---交鑰匙操作;
6、用于長壽命電極的新材料---減少維護和消耗;成本效益好;
7、專為標準一次性比色杯和石英比色杯設計---易于填充;
8、分辨率比流行的電泳光散射法提高10倍。
三、主要功能
納米粒度zeta電位儀也稱為穩定性分析儀。通過測量顆粒在介質中的電動勢來確定其表面電位,從而評估顆粒的穩定性和分散性。此外,Zeta電位儀還可以用于分析納米顆粒在介質中的運動,推導出其黏度、流變性質等信息。
四、應用領域
1、在食品行業中:可以用于檢測食品中的微米甚至納米顆粒;
2、醫學領域中:可以用于研究納米藥物的生物利用度、藥效和毒性等問題;
3、在環境監測領域:可以用于分析水體、土壤中的微粒子含量和組成等問題;
4、在材料科學領域中:可以用于分析納米材料的制備工藝、表面性質和結構等信息。